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MC022系列薄膜測厚儀(CH-1-S)
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MC022系列薄膜測厚儀
MC022系列(CH-1-S)
一、CH-1-S型薄膜測厚儀概述:
CH-1-S型薄膜測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標準。
二、CH-1-S型薄膜測厚儀主要參數(shù):
1. 量程：0-1mm 分度值：0.001mm
2. 上測頭曲率半徑：15-50mm
3. 測頭對試樣施加負荷我：0.1-0.5N
4. 測量精度：100vm以內＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm
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